LT STM/nc-AFM

不同于扫描隧道显微镜STM,原子力显微镜(AFM)主要通过探测针尖和样品间的相互作用力获得样品表面信息,不需要导电的样品,可以研究比STM更为广泛的样品体系,自发明以来迅速成为基础科学和应用研究领域中一种强有力的工具。近几年发展起来的基于q-Plus技术的非接触式原子力显微镜(q-Plus non-contact AFM),通过关键部件原子力传感器的改进,进一步拓展了原子力显微镜的探测能力,从而在许多研究方向上取得了重要突破。本系统是在我们自行研制低温STM构架的基础上,研制集成了q-plus型非接触AFM探头,可以同时以STM和nc-AFM模式工作,获得亚分子级的超高分辨。

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